【光伏技术进阶篇】一文读懂双面光伏组件的PID原理及解决方案

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摘要:PID(PotentialInducedDegradation)也称为电势诱导衰减,是指太阳能电池在长期受到一定的外电压下发生功率衰减的现象。这种现象最早是在2005年由美国公司SUNPOWER发现的,认为是一种极化效应;在2010年,NREL和So

PID(Potential Induced Degradation)也称为电势诱导衰减,是指太阳能电池在长期受到一定的外电压下发生功率衰减的现象。

这种现象最早是在2005年由美国公司SUNPOWER发现的,认为是一种极化效应;在2010年,NREL和Solon提出了PID风险的普遍性。如今,光伏组件的PID现象是行业中一个重大问题,在高温高湿的应用场景下功率衰减更为严重,严重影响了光伏电站的使用寿命。

PID失效的几种机理:

半导体体结发生变化,出现分流现象(PID-s,shunt分流)

1.太阳能电池内p-n结分流,如果通过电池片的电压为负压, 边框正偏压, 既光伏组件在受到负偏压时,则漏电阳极离子流入电池片, 半导体内出现了杂质,这些杂质会形成电池内部的导电通道,降低电池的并联电阻。目前电站上一般组件边框都是接地,所以电池片与边框会形成负偏压,正面电池产生此类PID现象,户外恢复很缓慢。

电离腐蚀和大量金属离子迁移

2.组件的边缘部分容易有水气进入,EVA发生水解后会生成醋酸,醋酸和玻璃中的Na+,可以生成大量的自由移动的Na+,玻璃表面的钠离子会通过封装材料迁移至电池表面,会与电池片表面的银栅线发生电腐蚀反应,从而腐蚀电池栅线,导致填充低、串联电阻高,组件性能衰减,此类衰减不可恢复。双玻使用POE属于非极性分子为饱和键不易水解且水汽透过率低,体积电阻率大,很大程度上可以阻隔正电荷离子(比如Na+)向电池片表面迁移速率,在一定程度上降低PID现象。

半导体活性区受影响,钝化效果恶化(PID-p,polarization极化)

3.指组件长期在高电压工作,在盖板玻璃、封装材料、边框之间存在漏电流,大量电荷聚集在电池片形成了与钝化场相反的电场,使得电池片表面的钝化效果恶化,此类极化效应导致填充因子、短路电流、开路电压降低,使组件性能低于设计标准,但此衰减是可逆的。

对于双面P-PERC电池,正面一般为PID-s衰减,背面一般为PID-p衰减。

①正面PID-s:

由于户外电站运行过程中,要考虑防雷措施,组件的边框是接地的,这样会导致组件和边框之间形成负偏压。负偏压过程中边框带正电,正面玻璃中的Na+会进行迁移。通过实验发现,除了玻璃本身中的Na+,电池片制作过程表面污染也会带来Na+,Na+在电场作用下,穿过玻璃和胶膜,聚集在电池片表面膜层,再铜鼓扩散的的形式进入填充在硅晶体的缺陷(位错)中,并穿过PN结,形成PN结两端的漏电流通道,这种一般称为PID-s(PID-shunt分流),比较常见的电池划伤也可能导致这种PID-s现象。

正面PID-s原理图

实验室结果,PID-s衰减,会导致电池的并联电组变小,漏电流增大,FF也随之降低,基本符合理论。

如要恢复这种PID失效,则理论上需要将Na+通过外电压向外扩散,实验证明反向电压下,恢复很缓慢。

②背面PID-p:

同理在组件和边框之间形成负偏压的情况下,加上P-PERC电池的正面少子是空穴、背面少子是电子,背玻中Na+快速聚集到电池片背面膜层,吸引背面少子和背面原有的带负电钝化层氧化铝,导致钝化效果恶化。这种我们一般称为PID-p(PID-polarization极化)。另外户外电站实验表明越靠近负极输出端的组件,承受负偏压越明显,且PID失效越明显、越靠近边框的电池片EL图像越黑。

背面PID-p原理图

电站上PID失效原理图

实验室结果,PID-p衰减,会导致电池的Isc大幅降低,Voc相对降低,基本符合理论。

如要恢复这种PID失效,可直接进行光照(尤其紫外)或者加反向电压进行修复。

户外暴晒逐渐恢复

对于N型电池,正面一般为PID-s和PID-p衰减,背面一般为PID-s衰减。所以N型的正面PID衰减大于背面衰减。

①正面PID-s:

同样在组件与边框形成负偏压时,正面玻璃中Na+快速涌入膜层,并穿过PN结,形成PN结两端的漏电流通道,从而形成PID-s现象。

①正面PID-p:

同样在组件与边框形成负偏压时,正面玻璃中Na+快速涌入膜层,原本钝化层Al2O3的负电被Na+吸引,导致正面钝化效果恶化,从而形成PID-p现象。

②背面PID-s:

同样在组件与边框形成负偏压时,正面玻璃中Na+快速涌入膜层,并穿过PN结,形成PN结两端的漏电流通道,从而形成PID-s现象。

总结及PID解决方案:

1.PID的失效原因主要是在负偏压条件下,Na+的破坏。P型和N型电池均会发生,P型电池主要发生在背面,N型电池主要发生在正面,也就是PID主要是因为电荷聚集破坏了电池的正极,导致钝化效果恶化,引发衰减。

2.P型的风险在于背面、N型的风险在于正面,但是由于晶硅电池都是浅结设计,所以N型因为漏电阳离子离PN结更近,影响更大,PID问题更突出。

3.双面双玻使用含非极性分子为饱和键的POE作为封装材料,能够有效减缓PID现象。

4.优化电池减反膜SiNx,调整折射率,增加致密性,一般为2.10比较合适,从而提高抗PID性能。

5.P型双面双玻中,透明背板作为背玻,本身很难电离出带正电的离子,所以在其他材料一致的情况下理论上比双面双玻有更好的抗PID效果,前提是做好低水透性能设计。

6.1对于使用隔离型光伏逆变器的光伏电站中,可通过逆变器负极接地来解决。

6.2对于多台组串式光伏逆变器构成的集中式光伏电站,通过抬升虚拟中性点的电位,使各台逆变器的组串负极对地电压接近为0电位以实现PID抑制功能。

6.3对于单台或多台组串式光伏逆变器构成的分布式光伏电站,采用逆变器内置或外置防PID修复功能模块,该模块由交流侧供电,在光伏组串正负极加正向偏置电压,修复PID效应,可提供自动模式,夜间模式和连续模式三种输出方式,一般默认为自动模式输出,自动模式输出为系统最高电压。

根据IEC 62804,在实验室进行负偏压PID实验(组件两端子进行短接后连接电压负极,边框连接电源正极),一般选择在试验箱进行实验,实验条件为温度60℃±2℃、湿度85%±3%、测试时间96H、施加电压-1500V。

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